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SNJ54BCT8374AFK
特殊ロジック
Texas Instruments
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
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製品の詳細
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仕様書
SNJ54BCT8374AFK
特殊ロジック
Texas Instruments
SCAN TEST DEVIC
特殊ロジック
チューブ
1
製品パラメータ
PDF(1)
タイプ説明
製造元Texas Instruments
シリーズ54BCT
パッケージチューブ
製品の状態ACTIVE
パッケージ・ケース28-CLCC
取付タイプSurface Mount
ビット数8
ロジックタイプScan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
動作温度-55°C ~ 125°C
供給電圧4.5V ~ 5.5V
サプライヤーデバイスパッケージ28-LCCC (11.43x11.43)
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サービス時間:月曜日から土曜日の9時-18時
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